Murakami Kouichi

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Research projects
界面バリア制御電子スピン共鳴法による微小領域プロセス誘起欠陥の評価1987 -- 1988Japan Society of for the Promotion of Science/基盤研究(C)1,400,000Yen
半導体結晶欠陥の物性1985 -- 1986Japan Society of for the Promotion of Science/その他150,000Yen
半導体結晶欠陥の物性1985 -- 1986Japan Society of for the Promotion of Science/その他350,000Yen
半導体の極微小領域におけるビーム・プロセス誘起欠陥の新検出法1984 -- 1984Japan Society of for the Promotion of Science/奨励研究1,000,000Yen
レーザーアニール時に於ける半導体講師温度の時間分解測定とその応用1983 -- 1983Japan Society of for the Promotion of Science/基盤研究(C)1,500,000Yen
III-V族半導体におけるプロセス誘起欠陥のＥＳＲ法による新評価方法1982 -- (current)Japan Society of for the Promotion of Science/奨励研究800,000Yen
ビームプロセス技術に関する総合的研究1981 -- (current)Japan Society of for the Promotion of Science/その他300,000Yen
極短パルス・レーザー・アニールによる非晶質ー結晶遷移の動的挙動1980 -- (current)Japan Society of for the Promotion of Science/奨励研究860,000Yen
イオン注入半導体のレーザ・アニール　ー非晶質・結晶遷移過程の動的挙動に関する測定ー1979 -- (current)Japan Society of for the Promotion of Science/奨励研究970,000Yen